介绍 MZ干涉仪是一种高精度的光学仪器，用于测量光程差。它是由美国物理学家Arthur Schawlow和Charles Townes于1958年发明的，被广泛应用于光学测量、光学通信、光学成像等领域。本文将详细介绍MZ干涉仪的原理、构造、工作方式以及其在实际应用中的优缺点。 原理 MZ干涉仪的基本原理是利用光波的干涉现象来测量光程差。它由两个相互垂直的反射镜和一个半透明反射镜组成，如图所示。当光线从光源射入半透明反射镜时，一部分光线被反射，一部分光线被透过，分别射向两个反射镜。反射镜将光线反

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